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Creato microscopio con supervista a raggi X

Questo contenuto è stato pubblicato il 09 agosto 2011 - 20:03
(Keystone-ATS)

Un nuovo microscopio a raggi X in grado di penetrare a grandissime profondità negli oggetti - fino al miliardesimo di metro - è stato sviluppato da un gruppo di fisici della UC di San Diego. Lo strumento è, per la prima volta, in grado di rivelare e visualizzare dettagli fino a un singolo nanometro.

I ricercatori, che hanno pubblicato il loro lavoro su Proceedings of the National Academy of Sciences, hanno sviluppato un software in grado di convertire in immagine le informazioni date dai raggi X che "rimbalzano" tra le strutture nanometriche. "Quello che abbiamo fatto - ha spiegato Oleg Shpyrko, uno dei responsabili del progetto - è stato mostrare per la prima volta le strutture magnetiche dei materiali a scale nanometriche".

Le possibili applicazioni date da questo potente microscopio a raggi X sono moltissime in quanto consente di poter manipolare con grande precisione e in scale micrometriche qualsiasi materiale, e nell'immediato è già previsto lo sviluppo di nuovi e molto più piccoli sistemi per l'archiviazione dei dati. "Considerando che gli hard disk di oggi - ha spiegato Eric Fullerton, co-autore della ricerca pubblicata - sono caratterizzati da blocchetti magnetici per l'immagazzinamento dei dati di circa 15 nanometri, da adesso avendo la capacità di poter visualizzare l'immagine a scala nanometrica, è possibile realizzare blocchetti molto più piccoli ma comunque capaci e quindi sistemi di memoria enormemente più potenti".

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